Étiquette : Porteàfaux
Porte-à-faux de référence standard pour l’étalonnage de la constante de ressort de microscopie à force atomique
La microscopie à force atomique (AFM) est une technique populaire pour interroger les surfaces à l’échelle micro et nano. L’utilisation la plus courante de l’AFM est l’imagerie; cependant, il existe…