Schlagwort: Spektroskopisches
Spektroskopisches Mikroellipsometer ermöglicht Dickenmessungen von 2D-Materialien auf atomarer Ebene
Zweidimensionale (2D) Materialflocken bestehen aus einzelnen bis wenigen Atomschichten und verleihen ihnen außergewöhnliche Quanteneigenschaften, die in alltäglichen Materialien nicht beobachtet werden. Daher bergen diese Materialien ein enormes Potenzial sowohl für…