Schlagwort: QubitGeräten
Der kryogene On-Wafer-Prober bestimmt die Qualität von Qubit-Geräten für Quantencomputer und Quantensensorik
Deutschlands erster kryogener Messaufbau zur statistischen Qualitätsmessung von Qubit-Bauelementen auf ganzen 200- und 300-mm-Wafern hat am Fraunhofer IAF den Betrieb aufgenommen. Der On-Wafer-Prober kann Geräte auf Basis von Halbleiter-Quantenpunkten und…