Neues Nanomikroskop ermöglicht gleichzeitige Messung der Eigenschaften von Nanokompositmaterialien

Das Korea Research Institute of Standards and Science (KRISS) hat ein Hybrid-Nanomikroskop entwickelt, mit dem verschiedene Eigenschaften von Nanomaterialien gleichzeitig gemessen werden können. Dieses Nanomikroskop ist für die Erforschung der Eigenschaften von Nanokompositmaterialien unerlässlich und eignet sich auch für die Kommerzialisierung. Es wird erwartet, dass es die Entwicklung von Industrien für verwandte Materialien und Ausrüstung fördert.

Das neu entwickelte Mikroskop ist ein hybrides Nanomikroskop, das die Funktionen der Rasterkraftmikroskopie, der fotoinduzierten Kraftmikroskopie und der elektrostatischen Kraftmikroskopie vereint. Anstatt Linsen zu verwenden, wird die Probe mit einer feinen Funktionssonde abgetastet, wodurch die gleichzeitige Messung der optischen und elektrischen Eigenschaften sowie der Form von Nanomaterialien mit einem einzigen Scan möglich ist.

Das zweischichtige Graphen ist eines der typischen Nanomaterialien, die vom Einsatz des Hybrid-Nanomikroskops profitieren. Aufgrund seiner überlegenen mechanischen Festigkeit, Flexibilität und hohen Wärmeleitfähigkeit im Vergleich zu Monoschicht-Graphen verfügt es über ein großes Anwendungspotenzial. Das zweischichtige Graphen weist verschiedene Eigenschaften auf, einschließlich Supraleitung, abhängig von der an jede Schicht angelegten Spannung oder dem Verdrehungswinkel zwischen zwei Schichten.

Die KRISS Material Property Metrology Group hat die Prinzipien der einzigartigen Infrarotabsorptionsreaktion aufgeklärt, die in zweischichtigem Graphen mit dem Hybrid-Nanomikroskop beobachtet wird. Die KRISS-Forscher bestätigten, dass dieses Phänomen durch das Ladungsungleichgewicht zwischen den beiden Graphenschichten verursacht wird. Sie demonstrierten auch experimentell die Fähigkeit, die Infrarotabsorption durch gezieltes Induzieren und Anpassen des Ladungsungleichgewichts zu steuern.

Herkömmliche Nanomikroskope konnten jeweils nur eine einzelne Eigenschaft eines Materials messen, was die Messung und Analyse der Verbundeigenschaften zu einer Herausforderung machte. Obwohl es einige Fälle gab, in denen zwei Eigenschaften gleichzeitig gemessen wurden, war die Kommerzialisierung immer noch eingeschränkt, da die Herstellung der Geräte anspruchsvoll war.

Das von KRISS entwickelte neuartige Nanomikroskop lässt sich problemlos in industriellen Umgebungen anwenden, da es ohne wesentliche Änderungen an der Struktur des vorhandenen Rasterkraftmikroskops hergestellt werden kann. Damit ist das KRISS-Forschungsteam das erste, das ein kommerziell nutzbares Hybrid-Nanomikroskop entwickelt.

Durch die Erweiterung seiner Messeigenschaften auf die magnetischen Eigenschaften neben den optischen und elektrischen Eigenschaften wird es möglich sein, alle drei Eigenschaften gleichzeitig auf der Nanoskala zu beobachten. Es wird erwartet, dass dies die Erforschung der Eigenschaften verschiedener Nanokompositmaterialien, einschließlich Quantenmaterialien, beschleunigen und zur Entwicklung von Nanomaterialien, Teilen und Geräten beitragen wird.

Eine weitere Stärke dieser Technologie ist die Fähigkeit, lokalisierte Änderungen der Eigenschaften herbeizuführen. Indem die mikroskopische Sonde zum Kratzen der Probenoberfläche verwendet und die Menge der zugeführten Elektronen angepasst wird, ist es möglich, gleichzeitig die optischen und elektrischen Eigenschaften des Bauteils wie einen Schalter zu steuern. Dies kann für den Entwurf von Schaltkreisen und anspruchsvollen Geräten unter Verwendung von Verbundeigenschaften nützlich sein.

Dr. Eun Seong Lee, leitender Forscher der KRISS Material Property Metrology Group, sagte: „Dieser Erfolg ist der Höhepunkt unserer Forschungserfahrung in der Nanomessung seit 2015. Wir hoffen, uns eine führende Position in der Forschung zu neuen Materialien zu sichern.“ Entwicklung von Nanomesstechnik für Verbundwerkstoffeigenschaften.“

Die Forschung ist veröffentlicht im Tagebuch Licht: Wissenschaft und Anwendungen.